邊界掃描測(cè)試是在 20 世紀(jì) 80 年代中期作為解決 PCB 物理訪問(wèn)問(wèn)題的 JTAG 接口發(fā)展起來(lái)的，基于JTAG協(xié)議而開(kāi)發(fā)的邊界掃描產(chǎn)品也越來(lái)越多。 JTAG測(cè)試的廣泛應(yīng)用和科技的發(fā)展，適用于JTAG測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)也在逐步推進(jìn)，從最初的用于互連測(cè)試的IEEE 1149.1工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，到1999年推出的適合數(shù)�；旌蠝y(cè)試的IEEE Std 1149.4-1999，再到2000年推出的可以對(duì)Flash，CPLD，F(xiàn)PGA進(jìn)行ISP（In System Programming系統(tǒng)內(nèi)編程）的IEEE 1532-2000。JTAG測(cè)試的功能逐漸強(qiáng)大和完善，從而在更多的領(lǐng)域得到越來(lái)越廣泛地應(yīng)用，并已成為國(guó)際上通用的電路板測(cè)試方法。 PCI-400特點(diǎn): 大容量: 超過(guò)7000個(gè)零件模型 速度快:2~10秒準(zhǔn)確找出故障點(diǎn)，整板測(cè)試時(shí)間小于30秒（不包括Flash編程） 準(zhǔn)確率高:可以準(zhǔn)確定位至網(wǎng)絡(luò)或零件腳 數(shù)據(jù)分析:對(duì)故障點(diǎn)進(jìn)行準(zhǔn)確的分析并產(chǎn)生詳細(xì)的報(bào)告