TO封裝集成電路老化測試插座
- 價(jià)格范圍：面議
- 供應(yīng)數(shù)量：10000
- 所在區(qū)域：江蘇
- 產(chǎn)品類別： 電力 >插座 >其他插座
- 發(fā)布時(shí)間：2015-02-22 03:01:46
- 揚(yáng)州市廣陵區(qū)鴻騰電器廠
- 聯(lián)系人：黃克鴻
- 電話：
- 手機(jī)：0514-87881291
- 傳真：-
- 地址：維揚(yáng)區(qū)秋雨西路冬梅苑15-603室
產(chǎn)品簡介
TO封裝集成電路老化測試插座
該插座用于金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結(jié)之用，連結(jié)金屬管材料采用磷青銅表面鍍金、 鍍銀、鍍鎳等工藝，該插座耐高溫、絕緣性能好，經(jīng)久耐用，深受用戶的歡迎。
產(chǎn)品型號及規(guī)格；
TO-4、6、8、10、12
主要技術(shù)指標(biāo)；
環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg
磷青銅管鍍銀層厚度；1um鎳2um銀 高低溫狀態(tài)下插拔壽命；2000-3000次.
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