型號:SS-200 
 亞微米電路/射頻測試針座
 特點
 亞微米工藝集成電路電路測試
 線性，無后座力移動
 可以配合同軸/三軸探針夾具使用
 夾具可以30度范圍傾仰
 可以使用鎢探針
 可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座
 射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
 多腳探頭測試范圍：直流到40GHz 或者 67Ghz
 可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件
 探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉(zhuǎn)接頭
 探頭可以拆卸維修
 射頻測試線固定裝置
 規(guī)格
 X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
 線性移動
 絲杠精度 200 Thread / Inch
 移動精度 0.35 微米
 尺寸
 100mm長 x 140mm寬 x 100mm高
 重 1100 克

 型號:SS-100
 亞微米電路/射頻測試針座
 特點
 亞微米工藝集成電路電路測試
 線性，無后座力移動
 可以配合同軸/三軸探針夾具使用
 夾具可以30度范圍傾仰
 可以使用鎢探針
 可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座
 射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
 多腳探頭測試范圍：直流到40GHz 或者 67Ghz
 可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件
 探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉(zhuǎn)接頭
 探頭可以拆卸維修
 帶射頻測試線固定裝置
 規(guī)格
 X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
 線性移動
 絲杠精度 100 Thread / Inch
 移動精度 0.7 微米
 尺寸 90mm長 x 130mm寬 x 90mm高
 重1000 克

 型號:SS-80
 電路/射頻測試針座
  特點
 線性移動
 I/O Pad 點測
 電路點測
 射頻測試
 較小的體積
 可以配合同軸/三軸探針夾具使用
 規(guī)格
 X-Y-Z移動行程 12mm x 12mm x 12mm
 線性移動
 絲杠精度 80 Thread / Inch
 移動精度 5 微米
 尺寸  52mm寬 x 96mm長 x 76mm高
 重 550 克

 型號:SS-40
 I/O Pad /Electro-Optics光電測試針座
 特點
 價格實惠
 線性移動
 I/O Pad 點測
 光電器件點測
 體積小
 可以配合同軸/三軸探針夾具使用
 規(guī)格
 移動行程 12mm x 12mm x 12mm 
 線性移動
 絲杠精度 40 Thread / Inch
 移動精度 10 微米
 尺寸 38mm寬x 62mm長 x 45mm高
 重200 克

 EB200/EB005/EB050/EB700附件
 三軸探針夾具
 同軸探針夾具
 磁力底座，磁力翻轉(zhuǎn)底座，真空底座
 軟件控制自動化針座
 有源探頭
 超聲波切割
 低電流/電熱點測
 高壓點測