Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS) 原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項行業(yè)領(lǐng)先的專利技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應用的結(jié)晶。 Dimension Icon 的出現(xiàn)為科學和工業(yè)界在納米尺度的研究帶來了革命性的巔峰之作。
Dimension Icon 可以實現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)出前所未有的高分辨率。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。探針和樣品臺的開放式設(shè)計使 Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。
Dimension Icon的硬件和軟件最大程度的利用了先進的布魯克AFM的模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式等。并且，獨有的不失真高溫成像技術(shù)采用對針尖和樣品同時加熱的方法，最大程度減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。
Dimension Icon 可廣泛應用于材料科學，物理，化學，微電子，生命科學等領(lǐng)域和學科。