1.測試波長:根據(jù)客戶需要選擇,目前有如下的選擇:
l 紅外線:850 nm(默認選項,抗干擾能力強)
l 可見光:白光 380nm-760nm
l 綠光: 530nm
2.透過率測量精度:優(yōu)于±1%
3.透過率分辨率:0.005%;
4.光密度測量范圍:0.00 OD。5.00 OD
5.光密度的分辨率:
0.01 for 0.00 - 3.00 OD
0.05 for 3.00 - 5.00 OD
6.最大測量點數(shù):32點
7.相鄰探測頭之間距離:最小70mm
8.發(fā)送接收探頭之間距離:20mm
9.溫度范圍: -20°C --- 70°C
10.數(shù)據(jù)刷新周期:300ms
11.儀器整體尺寸:100mm(寬)*230mm(高)* 長度(根據(jù)客戶要求定制)
12.需真空法蘭電極芯數(shù):6根(不配電腦監(jiān)控),9根(配電腦監(jiān)控)
13.電源:220V AC/50Hz
14.通訊:雙路RS485
對于鍍膜過程中的粉塵(如鍍鋁過程)會影響測量光學系統(tǒng),該系統(tǒng)采用防塵設計,粉塵不會影響光學系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵,只需要定期擦拭清潔光學系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可,方便維護。
真空環(huán)境中,和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別,經(jīng)過多次真空試驗和現(xiàn)場應用,成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。