從當(dāng)今的地球・市場(chǎng)環(huán)境來(lái)看，省能源・鉛/無(wú)鹵素・小型輕量・低價(jià)格・高信賴等觀點(diǎn)出發(fā)的，

新素材・新實(shí)裝方法的研究開發(fā)・評(píng)價(jià)方法的重估是必須的。

J-RAS公司把握市場(chǎng)的需要，為您提供容易操作而且可以進(jìn)行高信賴性評(píng)價(jià)試驗(yàn)的，

新時(shí)代離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 ECM-100系列。

簡(jiǎn)介：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流

電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的

現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ION MIGRATION TESTING）

適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001

離子遷移、電遷移、在PCB中離子遷移的危害與對(duì)策

PCB離子遷移研究及其故障分析 /SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

線路板表面絕緣電阻檢測(cè)/PCB表面絕緣電阻