林上測厚儀LS152 儀器使用須知 感謝您選擇使用LS152真空鍍膜***測厚儀，為了您能更好的使用本產(chǎn)品，請您先認(rèn)真閱讀本說明書。 本儀器通過測量材料(如塑料薄膜、玻璃等)的光學(xué)透過率或光密度來測量材料上涂層的厚度和涂層均勻性。所測結(jié)果不是直接顯示材料厚度，而是顯示為材料的光密度或透過率。 本儀器測量功能通過光學(xué)方式實(shí)現(xiàn)，非接觸測量，對膜層無損傷。 測控主機(jī)可以并排安裝多組探頭，每組探頭最小間距可達(dá)約70mm。 儀器探頭采用可插拔式設(shè)計(jì)，航空連接器連接，用戶可自行安裝和拆卸更換，便于維修及維護(hù)。 儀器工作溫度為-10℃ - 60℃，相對濕度應(yīng)小于85%，且不產(chǎn)生凝露 儀器存儲溫度為-20℃ - 70℃，應(yīng)避開熱源、腐蝕物，存儲在干燥處 本儀器使用應(yīng)避開強(qiáng)電磁干擾 儀器保修期為一年，凡保修期內(nèi)用戶正常使用而出現(xiàn)的故障，公司負(fù)責(zé)免費(fèi)維修。凡不當(dāng)使用或隨意拆卸儀器導(dǎo)致故障，請用戶自行負(fù)責(zé) 一、儀器簡介及特點(diǎn) 鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術(shù)指標(biāo)。鍍膜產(chǎn)品的光密度(光密度 = LOG(1/透過率))和鍍層厚度成正比例關(guān)系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率值越低。所以可以通過測量鍍膜產(chǎn)品的光密度值來達(dá)到監(jiān)控鍍膜層的厚度的目的。 真空鍍膜***測厚儀，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達(dá)到***檢測和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內(nèi)。以便操作人員及時(shí)了解產(chǎn)品質(zhì)量，如有問題，及早發(fā)現(xiàn)及調(diào)整工藝，提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品的廢品率。 LS152廣泛應(yīng)用于卷繞真空鍍膜，玻璃鍍膜，玻璃生產(chǎn)線，涂布生產(chǎn)線等。 儀器特點(diǎn)： 1、模塊化設(shè)計(jì)，各模塊之間采用航空連接器連接，結(jié)構(gòu)簡單，現(xiàn)場安裝維護(hù)方便。儀器具有溫度補(bǔ)償功能，數(shù)值穩(wěn)定，允許在高溫環(huán)境下使用。 2、防塵設(shè)計(jì)，對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計(jì)，粉塵不會影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光源探頭和接收探頭的鏡頭玻璃即可，方便維護(hù)。 3、真空室的電子設(shè)計(jì)，真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗(yàn)和現(xiàn)場應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。 4、此儀器提供雙路的RS485通信接口，標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通信協(xié)議，方便和PLC，單片機(jī)，人機(jī)界面，組態(tài)王，電腦等通信。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)控制自動化(閉環(huán)控制)。 5、人機(jī)界面，所有測試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控，包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、越限報(bào)警、RS485②通信參數(shù)設(shè)定等。透過率與光密度的顯示可自由切換。 6、儀器具有自動校準(zhǔn)功能和人工校準(zhǔn)功能，用戶可根據(jù)需要自由設(shè)置。 儀器結(jié)構(gòu) 設(shè)備分為三部分：測控主機(jī)、人機(jī)界面控制箱、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控軟件（選配）。 a)   測控主機(jī)主要包含光源探頭、接收探頭、控制器、鋁型材機(jī)架。 b)   人機(jī)界面控制箱主要包含人機(jī)界面、電源、不銹鋼箱體。 c)   電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控軟件，所有測試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控，包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實(shí)時(shí)曲線，越限報(bào)警等。透過率與光密度的顯示可自由切換。 二、技術(shù)參數(shù)

技術(shù)參數(shù)	LS152測厚儀
測量波長	850nm紅外線,530nm綠光可選
測量光斑	5mm圓形
透過率測量精度	優(yōu)于±1%
透過率分辨率	0.005%
光密度測量范圍	0.00 OD --- 5.00 OD
光密度分辨率	0.01  for  0.00 - 3.00 OD 0.05  for  3.00 - 5.00 OD
最大測量點(diǎn)數(shù)	45點(diǎn)
相鄰探頭之間距離	最小70mm
光源頭和接收頭之間距離	20mm
工作溫度	-10℃ ～ 60℃
存儲溫度	-20℃ ～ 70℃
相對濕度	小于85％，不結(jié)露
數(shù)據(jù)刷新周期	300ms
儀器尺寸	長(根據(jù)客戶要求定制)×寬(80mm)×高(180mm)
需真空法蘭電極芯數(shù)	6根(不配電腦監(jiān)控)/9根(配電腦監(jiān)控)
電源	220V AC/50Hz
通信	雙路RS485

三、服務(wù) 1、儀器保修一年。若儀器出現(xiàn)故障，請用戶將整套儀器或損壞的探頭寄至本公司維修 2、為用戶長期提供零配件，提供終身維修服務(wù) 3、為用戶免費(fèi)提供儀器檢驗(yàn)服務(wù) 4、長期免費(fèi)提供技術(shù)支持 生產(chǎn)制造商：深圳市林上科技有限公司 公司網(wǎng)址：http://www.lstek.cn 產(chǎn)品網(wǎng)站：http://www.lstek.cn/Product/LS152.html 聯(lián)系電話：0755-29663669/13826547799 聯(lián)系人：羅女士