浙江X熒光鍍層分析儀出售_廣東X熒光鍍層分析儀出售
江蘇，上海，浙江，山東，福建，天津，湖北，湖南，江西，廣東深圳等多地，天瑞儀器X熒光分析儀EDX-1800B廠家直銷(xiāo)活動(dòng)中，，歡迎來(lái)電咨詢(xún)，購(gòu)買(mǎi)。。天瑞儀器總部位于江蘇昆山市玉山鎮(zhèn)，分部于深圳寶安區(qū)福永鎮(zhèn)工業(yè)大鎮(zhèn)上，天瑞儀器20年專(zhuān)注于光譜，質(zhì)譜，色譜分析儀，天瑞光譜儀年銷(xiāo)售量高達(dá)上萬(wàn)臺(tái)，現(xiàn)已于09年上市，性?xún)r(jià)較高的天瑞X熒光分析儀，X熒光掃描儀，XRF檢測(cè)儀，重金屬檢測(cè)儀，合金分析儀，黃銅分析儀等，為所有出口廠家提供了較有利的品質(zhì)保證！

 

江蘇天瑞X熒光分析儀EDX-1800B廠家直銷(xiāo)，它的特點(diǎn)有：

 

1.外觀新穎，配色簡(jiǎn)潔清新，測(cè)試操作更方便輕松。
 
2.樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。
 
3.設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全高于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。
 
4.軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，操作員、主管使用不同的用戶(hù)名和密碼登陸，測(cè)試的記錄報(bào)告也會(huì)自動(dòng)添加測(cè)試人員的名稱(chēng)。

 

5.最新FlexFP分析軟件，測(cè)試數(shù)據(jù)模型更科學(xué)，軟件處理的譜形更合理，計(jì)算結(jié)果更準(zhǔn)確。
具有的譜圖對(duì)比功能，時(shí)刻監(jiān)督著供應(yīng)商的物料工藝變化，因?yàn)楣��?yīng)商的物料環(huán)保風(fēng)險(xiǎn)主要發(fā)生在原材料和工藝條件變更。

6●Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppml
l7●使用1.2ｍｍ/3ｍｍ　X射線導(dǎo)管專(zhuān)利技術(shù)(XGT)實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域的高　　　　　　靈敏度分析
8●采用大型試樣室(460ｍｍ×360ｍｍ×150ｍｍl
9●試樣為塑料、金屬、紙、涂料、油漆等，并真正實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)l
10●可使用CCD照相機(jī)(50倍)指定試樣的位置(業(yè)內(nèi)首家！X射線?光學(xué)l
同軸照射)
11●測(cè)定可一鍵實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單操作l
12●自動(dòng)元素干擾修正、厚度補(bǔ)償l
l13●數(shù)據(jù)輸出到EXCEL并可依據(jù)管理值實(shí)現(xiàn)自動(dòng)判定功能

 

 

江蘇天瑞X熒光分析儀EDX-1800B應(yīng)用范圍：

 

 

比如： 電子行業(yè)、機(jī)械制造、醫(yī)療衛(wèi)生、生態(tài)研究、冶金有色、食品工業(yè)和商業(yè)、珠寶首飾、地質(zhì)勘探、煤炭、造紙、建材行業(yè)、考古、商檢、電鍍行業(yè)、鋼鐵行業(yè)、石化、稀土、石英砂、金鋼砂、陶瓷、等許多領(lǐng)域得到 了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用.


 

 

江蘇天瑞X熒光分析儀EDX-1800B產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)試元素范圍：Na-U中的管控元素；
探測(cè)器類(lèi)型：Si-PIN電制冷  
探測(cè)器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：8種符合濾光片自動(dòng)切換；
CCD拍照：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
開(kāi)蓋方式：隨意自動(dòng)停
測(cè)試樣品種類(lèi)：液體、固體和粉末
測(cè)量范圍：1ppm—99.99%
測(cè)量用時(shí)：120-400秒
測(cè)試環(huán)境：非真空測(cè)試
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：?1,?2,?4mm
軟件方法：FlexFP

江蘇天瑞X熒光分析儀EDX-1800B技術(shù)參數(shù)：


 

M1 MISTRAL根據(jù)所配探測(cè)器不同分為二種型號(hào)：正比計(jì)數(shù)器（PC）型和高分辨的硅漂移探測(cè)器（SDD）型


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